多层膜厚测试仪设备中标结果公告
发布时间: 2024-08-14 13:35:38作者: 乐鱼体彩网页版
项目名称:采购半导体设备第6批,项目编号:0664-2440SUMECF72/04,招标范围:全自动晶圆表面测量系统,招标机构:苏美达国际技术贸易有限公司,招标人:苏州威微电子材料有限公司
近日,日本冲绳科学技术大学院大学(OIST)宣布了一项突破性的科技成果——一种全新的极紫外(EUV)光刻技术。
项目名称:燕东科技12吋外观缺陷检验测试设备采购,项目编号ZB0874,招标范围:12吋外观缺陷检验测试设备 1台 该设备用于12吋晶圆表面外观和微观检测。招标机构:华采招标集团有限公司,招标人:北京燕东微电子科技有限公司
项目名称:甬江实验室采购晶圆厚度测量系统项目,项目编号:0762-2440CBNB2017,招标范围:晶圆厚度测量系统 1套,招标机构:宁波中基国际招标有限公司,招标人:甬江实验室
项目名称:宏观缺陷自动光学检查机,项目编号:0730-7/56,招标范围:宏观缺陷自动光学检查机,招标机构:中航技国际经贸发展有限公司,招标人:厦门天马显示科技有限公司
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